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Frank Wirbeleit

    Prozessoptimierung
    The atomic structure of point defects in semiconductors by improved EPR, ENDOR data analysis
    • Prozessoptimierung

      Einführung in die Statistische Datenanalyse und Versuchsplanung

      • 165 stránok
      • 6 hodin čítania

      Der Leser wird von der Untersuchung und Darstellung empirisch vorgefundener Daten bis zu Planung und Auswertung eigener statistischer Versuchspläne durch dieses Buch begleitet. Es wird dabei ganz bewusst auf praktisch relevante und bewährte Methoden Bezug genommen und auf weiterführende wissenschaftliche Beschreibungen verzichtet. Praktisch relevante Methoden werden im Zusammenhang dargestellt. Dr. Frank Wirbeleit publiziert statistische Arbeiten seit 20 Jahren und hat langjährige Praxiserfahrung bei Unternehmen wie AMD, IBM, Intel.

      Prozessoptimierung