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Strukturcharakterisierung mit Röntgenbeugung, Wachstum und in-situ Oberflächenuntersuchungen von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen

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Strukturcharakterisierung mit Röntgenbeugung, Wachstum und in-situ Oberflächenuntersuchungen von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen, Marcus J. Kastner

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Rok vydania
1997
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