Kniha momentálne nie je na sklade
Parametre
Nákup knihy
Charakterisierung von MOVPE-II-VI-Halbleiter-Schichten mittels Röntgendiffraktometrie, Jun Xu
- Jazyk
- Rok vydania
- 1999
Akonáhle sa objaví, pošleme e-mail.
Platobné metódy
Nikto zatiaľ neohodnotil.