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Entwicklung und Anwendung eines ellipsometrischen Mikroskops zur lokalen Dickenmessung ultradünner, mikrostrukturierter Adsorbatfilme auf Festkörperoberflächen

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Entwicklung und Anwendung eines ellipsometrischen Mikroskops zur lokalen Dickenmessung ultradünner, mikrostrukturierter Adsorbatfilme auf Festkörperoberflächen, Klaus Neumaier

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Rok vydania
1999
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