Kniha momentálne nie je na sklade
Parametre
Nákup knihy
Development of ellipsometric microscopy as a quantitative high-resolution technique for the investigation of thin films at glass-water and silicon-air interfaces, Felix Linke
- Jazyk
- Rok vydania
- 2004
- product-detail.submit-box.info.binding
- (mäkká)
Akonáhle sa objaví, pošleme e-mail.
Platobné metódy
Nikto zatiaľ neohodnotil.