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Formale Beschreibung der Testspezifikation und Testerarchitektur zur Verbesserung der Testentwicklung für gemischt analog-digitale integrierte Schaltungen

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Formale Beschreibung der Testspezifikation und Testerarchitektur zur Verbesserung der Testentwicklung für gemischt analog-digitale integrierte Schaltungen, Baolin Deng

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2005
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