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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
Nákup knihy
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen, Peter Baumann
- Jazyk
- Rok vydania
- 2024
- product-detail.submit-box.info.binding
- (mäkká)
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Platobné metódy
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- Titul
- Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
- Podtitul
- Simulation mit PSPICE
- Jazyk
- nemecky
- Autori
- Peter Baumann
- Vydavateľ
- Springer Fachmedien Wiesbaden
- Rok vydania
- 2024
- Väzba
- mäkká
- Počet strán
- 262
- ISBN10
- 3658438207
- ISBN13
- 9783658438203
- Série
- Štítky
- Náučná literatúra, Umenie & Kultúra, Technológie & Priemysel, Architektúra, Architektúra & Urbanizmus
- Anotácia
- Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.