Bookbot

X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition

Parametre

  • 238 stránok
  • 9 hodin čítania

Nákup knihy

X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition, Richard C. Kebart, Raphael R. Alvarado, John F. Lontz, Graham T. Curtis, Noreen P. Kebart

Jazyk
Rok vydania
1976,
Stav knihy
Poškodená
Cena
2,44 €

Platobné metódy

Nikto zatiaľ neohodnotil.Ohodnotiť

Jazyk
anglicky
Rok vydania
1976
Počet strán
238
ISBN10
0874884438
ISBN13
9780874884432
Série
Štítky